一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
螺絲產(chǎn)品的外觀檢測
| 序號 |
|
檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 螺尖斷裂 | 側(cè)面背光源檢測 | 可檢 |
| 2 | 螺絲彎曲 | 側(cè)面背光源檢測 | 可檢 |
| 3 | 螺頭變形 | 底部正光源檢測 | 可檢 |
| 4 | 螺牙不良 | 側(cè)面背光源檢測 | 可檢 |
| 5 | 螺頭斷裂 | 底部正光源檢測 | 可檢 |
注明：以上檢測項(xiàng)目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于160件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
3.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺紋頭裂紋
5.底部正光檢測良品分析圖：OK
6.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺紋頭裂紋
8.底部正光檢測良品分析圖：OK
9.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺頭變形
11.底部正光檢測良品分析圖：OK
12.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺頭變形
13.側(cè)面背光檢測良品原圖：
14.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
15.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：滑牙
16.側(cè)面背光檢測良品原圖：
17.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
18.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：少牙
20.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
21.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：滑牙
23.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
24.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：彎曲
26.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
27.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺尖斷裂
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業(yè)相機(jī) | SONY工業(yè)相機(jī) | 2套 |
| 5 | 相機(jī)調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 2套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 2套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 2套 |
| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺 | 1套 |
| 9 | 伺服電機(jī) | 松下·PANASONIC | 1套 |
| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 11 | PLC運(yùn)動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
設(shè)備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
1.底部正光檢測良品原圖：
2.底部正光檢測良品分析圖：OK
3.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺紋頭裂紋
4.底部正光檢測良品原圖：
5.底部正光檢測良品分析圖：OK
6.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺紋頭裂紋
7.底部正光檢測良品原圖：
8.底部正光檢測良品分析圖：OK
9.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺頭變形
10.底部正光檢測良品原圖：
11.底部正光檢測良品分析圖：OK
12.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺頭變形
13.側(cè)面背光檢測良品原圖：
14.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
15.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：滑牙
16.側(cè)面背光檢測良品原圖：
17.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
18.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：少牙
19.側(cè)面背光檢測良品原圖：
20.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
21.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：滑牙
22.側(cè)面背光檢測良品原圖：
23.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
24.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：彎曲
25.側(cè)面背光檢測良品原圖：
26.側(cè)面背光檢測良品分析圖：OK
27.側(cè)面背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：螺尖斷裂
